Caracterización estructural de bulks de silicio cristalino y amorfo generados mediante simulación computacional

dc.contributor.advisorGuerra Torres, Jorge Andrés
dc.contributor.authorDávila Dávila, Alex Ernesto
dc.date.accessioned2025-01-24T15:30:53Z
dc.date.created2024
dc.date.issued2025-01-24
dc.description.abstractEsta disertación está dedicada a la caracterización estructural de bulks de silicio cristalino y amorfo generados mediante simulaciones computacionales. El Capítulo 1 consiste en una revisión general del estado del arte relativo a la simulación y descripción de características estructurales de materiales cristalinos y amorfos y la presentación de los objetivos de la investigación. El Capítulo 2 presenta en detalle la fundamentación del uso de las siguientes medidas de caracterización estructural de bulks: 1) longitudes de enlace entre átomos, 2) ángulos que forman entre sí dos parejas de átomos, 3) funciones de distribución radial y de correlación, 4) estadísticas de anillos que los átomos forman entre sí, y 5) factores de estructura. El Capítulo 3 presenta los resultados de: 1) visualización de: a) un bulk de silicio cristalino de 216 átomos generado para la presente investigación y b) un bulk de silicio amorfo de 216 átomos generado por Barkema y Mousseau (2000) y 2) las medidas de caracterización estructural de los dos bulks. El Capítulo 4 sumariza: 1) cada uno los resultados alcanzados y los compara con los obtenidos con simulaciones reportadas en la literatura así como experimentos y observaciones igualmente reportados en la literatura, 2) discute los alcances y las limitaciones de la presente investigación y 3) señala brevemente las líneas de trabajo que podrían desarrollarse a futuro, en Apéndice se describen en detalle los procedimientos para visualizaciones y cálculos y se muestran los códigos programación utilizados para generar el bulk cristalino empleado en la presente investigación y el cálculo de las funciones de correlación.
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12404/29841
dc.language.isospa
dc.publisherPontificia Universidad Católica del Perúes_ES
dc.publisher.countryPE
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_ES
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/pe/
dc.subjectSilicio
dc.subjectEstructura atómica
dc.subjectSimulación por computadora
dc.subject.ocdehttps://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.03.00
dc.titleCaracterización estructural de bulks de silicio cristalino y amorfo generados mediante simulación computacional
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesis
renati.advisor.dni46163725
renati.advisor.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-1734-6660
renati.author.dni09996285
renati.discipline533017
renati.jurorGrieseler, Rolf
renati.jurorGuerra Torres, Jorge Andrés
renati.jurorLizárraga Olivares, Kevin Angello
renati.levelhttp://purl.org/pe-repo/renati/level#maestro
renati.typehttps://purl.org/pe-repo/renati/type#tesis
thesis.degree.disciplineFísicaes_ES
thesis.degree.grantorPontificia Universidad Católica del Perú. Escuela de Posgrado.es_ES
thesis.degree.levelMaestríaes_ES
thesis.degree.nameMaestro en Físicaes_ES

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