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Determinación de la topografía superficial de películas delgadas de TiO2 y SiC mediante interferometría tipo Michelson
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2016-11-23)
El presente trabajo de tesis propone un método para determinar la topografía superficial de muestras de películas delgadas de TiO2 y SiC, mediante el análisis de interferogramas con técnicas de interferometría de desplazamiento ...