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    Construction and implementation of a 4-probe measuring system to determinate the temperature dependent sheet resistance of thin films 

    Pacheco Arenas, Carlos Arturo (Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-04-12)
    In order to build machines, electronic devices, it is necessary to know all properties of the materials. The machines and electronic devices use parts that are interconnected, the mechanical properties are important, but ...
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    Integration of a visual tracking system into a four probe measuring system to evaluate the electrical sheet resistance of thin films 

    Curi Grados, Osmar Giordano Adolfo (Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-07-13)
    En los últimos años, las películas delgadas han sido ampliamente estudiadas debido a la amplia gama de aplicaciones técnicas que presentan, algunas de las cuales están determinadas por sus propiedades eléctricas tales ...
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    FEM simulation of residual stresses of thin films for applications in MEMS 

    Macavilca Román, José Carlos (Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-06-19)
    In MEMS sensors, such as resonators based on cantilever and doubly-clamped beams, the presence of residual stresses in the thin films disrupt their mechanical properties or eigenfrequencies and, in some cases, can destroy ...
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    Implementation of a triboelectrical workstation for the investigation of the influence of electrical current on the tribological properties of thin films 

    Yupanqui Aliaga, Edson Igor (Pontificia Universidad Católica del Perú, 2016-06-20)
    Con el fin de hacer que las máquinas, circuitos electrónicos o contactos eléctricos para diversas aplicaciones, funcionen correctamente; es necesario conocer sus características. La mayoría de las máquinas desarrolladas ...

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    AuthorCuri Grados, Osmar Giordano Adolfo (1)Macavilca Román, José Carlos (1)Pacheco Arenas, Carlos Arturo (1)Yupanqui Aliaga, Edson Igor (1)SubjectPelículas delgadas (2)Conectores eléctricos (1)Electrostática (1)Método de elementos finitos (1)Películas delgadas--Propiedades eléctricas (1)... View MorePost date2017 (3)2016 (1)Advisor
    Rumiche Zapata, Francisco (4)
    Ströhla, Tom (4)Academic degree
    Maestría (4)

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